【大纪元2012年04月11日讯】（大纪元记者魏新笛悉尼编译报导）一项新的研究发现，过去曾频繁做过牙科X光射线检查的患者，得脑瘤的风险更高。
美国研究人员就在美国最常诊断出的脑肿瘤-脑膜瘤和会发出电离辐射的牙科X光检查之间的关系进行了研究。
电离辐射是导致多为良性肿瘤的脑膜瘤的主要环境风险因素。
该研究将确诊为脑膜瘤的20至79岁的1433名患者，与1350名具有相似特点的健康人相比较。
研究发现，10岁以下有过牙科X光射线检查的患者，有可能发展脑膜瘤的风险大5倍。特别是一种被称为panorex、在口外拍片显示整个牙齿的检查。
研究还发现，每年做一次或更多次相同的X光检查的人，根据年龄，患脑膜瘤的风险分别为2.7至3倍；每年做一次或多次在牙齿之间放片的咬合X-射线检查的患者，患脑膜瘤的风险分别为1.4到1.9倍。
报告的主要作者，美国耶鲁大学医学院的克劳斯（Elizabeth Claus）说，牙病患者受到的辐射剂量，现在比过去要低得多。她说，美国牙科协会提出的建议，儿童每隔一到两年接受一次X光检查，青少年为每一年半至三年，成年人为每两年到三年。
悉尼大学公共卫生学院教授阿姆斯特朗（Bruce Armstrong）表示，有些现在患脑膜瘤的人可能是由于过去接触过X光射线检查，而带有更高的风险。不过他强调，现在新的X光射线技术可能会降低这类风险。在澳洲，有行业规则指导如何最低限度降低患者和医生接触电离辐射的风险，按照规定，要尽量保持合理低的X光射线剂量，并在只有临床确定需要做X光射线检查时才应使用。
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