【大紀元4月4日報導】(中央社記者陳朝福高雄四日報導)財團法人金屬工業研究發展中心開發成功電腦視覺自動精密量測機，可自動快速檢查電路板ＩＣ晶片，讓晶片瑕疵無所遁形，有效提升業者經營競爭力。
金屬中心今天透露，國內ＩＣ封裝測試業界檢驗晶片外型瑕疵時，大都依賴人工作業方式，導致檢視失誤率偏高，金屬中心為協助解決業者的困擾，結合電腦視覺自動精密量測軟體和機械業者，利用光學自動精密檢測技術，共同開發出這套具高正確率的電腦視覺自動精密量測機，且價格約只有歐美相似品級的一半。
金屬中心指出，利用這套自動精密量測機每秒約可檢測ＩＣ晶片兩個，檢出正確率可達百分之九十九點九，並符合業者的品管標準，不但檢測速度大幅提升，每一個作業員可監看三台量測機，人工與設備成本都明顯降低。
這套自動精密量測機可快速檢測出ＩＣ晶片外表缺陷、污損、型號標示不明和錯置等；金屬中心說，以往業者在進行檢測作業時，都必須依賴相當多的作業員利用大型放大鏡逐一檢視，一人一機，長時間工作下來難免有人為疏失，效率也不佳。
