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【大纪元9月7日报导】(中央社记者韦枢台北七日电)安捷伦科技与国家实验研究院国家奈米元件实验室，今天针对“晶圆级高频元件自动测试与分析程式”签订技术合作协定，这项改良型技术不但提升半导体制程技术和产品良率，同时还能回馈给安捷伦科技公司，奈米元件实验室也可再开发新的应用。
“晶圆级高频元件自动测试与分析程式”技术合作协定，是由安捷伦科技亚太区通讯电子设计自动化总经理叶豪相与奈米元件实验室主任倪卫新代表，在台北科技大楼签署。国家实验研究院院长李罗权与台湾安捷伦董事长申义龙见证。
叶豪相表示，安捷伦科技先前将昂贵的工具软体IC-CAP（积体电路特性描述与分析程式）捐赠给奈米实验室，实验室的研究团队在研究员黄国威带领下，逐步研发出“晶圆级高频元件自动测试与分析程式”技术，并转移给安捷伦科技，让系统软体功能效率更完善。
叶豪相指出，奈米实验室发展出的这项技术，可协助安捷伦在IC-CAP平台上提供更多一流技术，将晶圆级高频元件自动测试与分析技术整合到IC-CAP平台中，可提供半导体产业制程技术最佳元件模型化解决方案，提升半导体元件模拟的品质与准确度。
黄国威说，过去做高频元件或模型化的工程在封装时并没有自动化测试设备，需要手动调整测试，有了新技术即可改采自动化测试，加速晶圆级高频元件的特性测试及统计分析，可提升半导体制程技术的发展，并达到简化设计流程、缩短产品开发时间且增加新产品开发成功率的需求，可大幅提升台湾半导体产业竞争力。
