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【大紀元10月17日訊】第六屆「全國AOI論壇與展覽」即將於10月19日（四）在新竹交通大學正式登場！會中邀請大塚電子黑田秀樹營業部長、與工研院經資中心分別針對「液晶製造程序MURA檢測展望」與「全球LCD設備市場概況」舉行專題演講。現場並將發表多項前瞻檢測應用技術與交流。
第六屆「全國AOI論壇與展覽」由自動光學檢測設備聯盟（AOIEA）、工業技術研究院、教育部精密檢測設備教學資源中心共同主辦，活動當天，「AOI技術論壇」將發表國內54項應用於LCD、IC/光電元件、PCB（印刷電路板）的最新檢測技術。
「AOI技術能量大觀」則有來自台灣大學、清華大學、成功大學等多位師生，介紹近30項具備高度技術能量之研發成果。此外，尚有台智精密、大塜電子、凌華科技、研華科技、新亞洲儀器等國內外共18家廠商參與「AOI專業展覽」，提供AOI元件選配資訊。
國內首屆「UTMVP由田機器視覺獎」亦將於活動當天進行頒獎典禮，並發表得獎作品。旨在鼓勵產學研各界人員組隊投入「機器視覺」領域之研發與創意應用，並發展自主性AOI檢測軟體的UTMVP，主要將競賽項目分為「創新類」、「解題競賽類」。
10月19日（四）舉辦的 「全國AOI論壇與展覽」歡迎各界人士線上報名參加（http://aoiea.itri.org.tw）！詳情可洽AOIEA秘書處（03）5743813。 (http://www.dajiyuan.com)
