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“全国AOI 论坛与展览” 19日交大登场

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【大纪元10月17日讯】第六届“全国AOI论坛与展览”即将于10月19日(四)在新竹交通大学正式登场!会中邀请大塚电子黑田秀树营业部长、与工研院经资中心分别针对“液晶制造程序MURA检测展望”与“全球LCD设备市场概况”举行专题演讲。现场并将发表多项前瞻检测应用技术与交流。

第六届“全国AOI论坛与展览”由自动光学检测设备联盟(AOIEA)、工业技术研究院、教育部精密检测设备教学资源中心共同主办,活动当天,“AOI技术论坛”将发表国内54项应用于LCD、IC/光电元件、PCB(印刷电路板)的最新检测技术。

“AOI技术能量大观”则有来自台湾大学、清华大学、成功大学等多位师生,介绍近30项具备高度技术能量之研发成果。此外,尚有台智精密、大塜电子、凌华科技、研华科技、新亚洲仪器等国内外共18家厂商参与“AOI专业展览”,提供AOI元件选配资讯。

国内首届“UTMVP由田机器视觉奖”亦将于活动当天进行颁奖典礼,并发表得奖作品。旨在鼓励产学研各界人员组队投入“机器视觉”领域之研发与创意应用,并发展自主性AOI检测软体的UTMVP,主要将竞赛项目分为“创新类”、“解题竞赛类”。

10月19日(四)举办的 “全国AOI论坛与展览”欢迎各界人士线上报名参加(http://aoiea.itri.org.tw)!详情可洽AOIEA秘书处(03)5743813。 (http://www.dajiyuan.com)

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